知識星球(星球名:芯片制造與封測技術社區(qū),星球號:63559049)里的學員問:聚焦離子束顯微鏡是運用鎵(Ga)金屬來做為離子源,為什么?
什么是FIB?
FIB,全名Focused Ion Beam,聚焦離子束,在芯片制造中十分重要。主要有四大功能:結構切割,線路修改,觀察,TEM制樣等。
為什么用金屬鎵做離子源?
鎵的熔點為 29.76°C,在室溫稍高的條件下即為液態(tài),這使其非常適合操作。液態(tài)鎵的蒸氣壓非常低(<10^(-13) Torr),即使在高真空環(huán)境下也能保持穩(wěn)定,不易揮發(fā)而污染真空腔。
表面張力高,可以穩(wěn)定地形成 Taylor cone,從而精確地提取離子。
亮度高,束斑尺寸小,通常小于 10 nm,加工精度高。等等
鎵離子束是如何產(chǎn)生的?
液態(tài)鎵存儲在儲存器(Ga Reservoir)中,通過線圈(heater wires)加熱,使鎵保持液態(tài)。液態(tài)鎵通過毛細作用流向 W針尖(W needle) 的表面,在鎢針尖和提取電極之間施加數(shù)十千伏的強電場,電場會集中在針尖處,使液態(tài)鎵受到電場力拉伸。
液態(tài)鎵在電場的作用下被拉伸成一個非常小的曲率半徑的錐形(Taylor cone),在Taylor cone的尖端,液態(tài)鎵的原子被強電場游離,形成鎵離子,離子以初始發(fā)射角約為 50°的角度射出,經(jīng)過下游的電磁透鏡聚焦,最終形成一個高亮度、高精度的高斯分布束斑(Gaussian Profile),即聚焦離子束。
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