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溫度漂移

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由溫度變化所引起的半導體器件參數(shù)的變化是產(chǎn)生零點漂移現(xiàn)象的主要原因,因此也稱零點漂移為溫度漂移,簡稱溫漂。

由溫度變化所引起的半導體器件參數(shù)的變化是產(chǎn)生零點漂移現(xiàn)象的主要原因,因此也稱零點漂移為溫度漂移,簡稱溫漂。收起

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  • 電路醫(yī)生 | 傳感器漂移不可控,如何對參數(shù)漂移進行準確分析?
    單只傳感器長期工作時,其參數(shù)會隨時間漂移,這個問題是一個不易發(fā)現(xiàn)、不易測量、不易解決的問題。在交付驗收時,很短的試運行時間內(nèi),發(fā)現(xiàn)此隱患不容易。
  • 溫度漂移
    溫度漂移是指當材料中存在溫度梯度時,在導體或半導體中的載流子(如電子、空穴等)因受到溫度梯度的影響而發(fā)生漂移的現(xiàn)象。溫度梯度引發(fā)了載流子的漂移,從而改變了材料的電導率。這種漂移過程會導致材料內(nèi)部電荷分布的不均勻,最終影響材料的整體電性質(zhì)。
  • 什么是零點漂移現(xiàn)象?什么是溫度漂移?
    零點漂移是指與時間有關(guān)的測量量在測量過程中隨時間發(fā)生偏移的現(xiàn)象。這種現(xiàn)象可能出現(xiàn)在各種測量設(shè)備中,例如傳感器、儀器和計量系統(tǒng)。通常,零點是指測量物理量的起點或基準點,而漂移則表示測量結(jié)果相對于這個基準點的變化。
  • 產(chǎn)生溫漂的原因 溫漂一般如何處理
    產(chǎn)生溫漂是由于溫度變化引起的物體形態(tài)尺寸的改變,常見于高精度、高穩(wěn)定性儀器和設(shè)備中,在使用過程中可能會對機器性能產(chǎn)生影響。以下將介紹產(chǎn)生溫漂的原因以及處理方法。

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