BGA(球柵陣列封裝)是一種常見的集成電路封裝技術(shù),它具有接觸面積大、信號傳輸效率高等優(yōu)點。然而,BGA焊點位于器件底部,不易檢測和維修,而且由于BGA功能高度集成,焊點容易受到機械應力和熱應力的影響,導致開裂或脫落,從而影響電路的正常工作。本文將分析應力作用下BGA焊點開裂的原因,并提出相應的控制方法。
機械應力和熱應力是BGA焊點開裂的主要因素
機械應力是指物體受到外力而變形時,在其內(nèi)部各部分之間產(chǎn)生的相互作用力。BGA焊點在裝配和使用過程中,可能會受到來自不同方向的機械應力,如振動、沖擊、彎曲等。這些應力會導致焊點內(nèi)部產(chǎn)生裂紋,甚至斷裂。
熱應力是指物體由于溫度變化而產(chǎn)生的脹縮變形,在外界或內(nèi)部約束的作用下,不能完全自由變形而產(chǎn)生的內(nèi)部應力。在高溫作用下,焊點內(nèi)部將持續(xù)產(chǎn)生熱應力,導致疲勞累積,造成焊點斷裂。
圖1. BGA焊點開裂
IMC過厚會降低焊點可靠性
IMC是焊料與焊盤之間形成的一種金屬化合物,它對焊點的強度和可靠性有重要影響。在無鉛工藝條件下,由于焊接溫度比有鉛工藝更高,時間更長,因而IMC的厚度相對更厚。再加上無鉛焊料本身比較硬,使得無鉛焊點比較容易因應力而斷裂。
如果BGA原始的IMC特別厚,即超過10μm,那么,在再流焊接時,IMC很可能發(fā)展成寬的和不連續(xù)的塊狀IMC,如圖所示。這種IMC相對于正常IMC,其抗拉和抗剪強度會低 20%左右,在生產(chǎn)周轉(zhuǎn)和裝配過程中,容易因操作應力而斷裂。
圖2. 塊狀IMC
BGA焊點開裂的控制方法
1.嚴格管控焊接溫度和時間,避免IMC持續(xù)生長。
2.采用低Ag+Ni無鉛焊料。Ag+Ni無鉛焊料具有優(yōu)良的抗機械振動性能。 Ag是加速界面IMC生長的元素,Ni對Cu3 Sn的生產(chǎn)具有抑制作用,低Ag+Ni可以有效阻止IMC生長。
3.減輕部件重量、增加機構(gòu)件如散熱器的托架、增加產(chǎn)品工作時剛性避免劇烈振動等,或變更生產(chǎn)工藝如使用膠黏劑加固等,以此提升焊點抵抗機械應力的能力。