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  • ATE怎么入門？如何進(jìn)階？薪資天花板有多高？
    ATE怎么入門？如何進(jìn)階？薪資天花板有多高？
    有一說(shuō)一，這個(gè)薪資水平確實(shí)就是業(yè)內(nèi)現(xiàn)狀。下文中會(huì)羅列不同職業(yè)階段的薪資水平。在集成電路制造工藝?yán)锩妫嬖谥未嬲娴男枰?，這種需要實(shí)際上是一個(gè)試驗(yàn)的過(guò)程。為了實(shí)現(xiàn)這種過(guò)程，就需要各種試驗(yàn)設(shè)備，這類設(shè)備就是ATE（Automatic Test Equipment）。
  • 研華COM-HPC Size C模塊SOM-C350，助力存儲(chǔ)ATE測(cè)試設(shè)備快速部署
    研華COM-HPC Size C模塊SOM-C350，助力存儲(chǔ)ATE測(cè)試設(shè)備快速部署
    導(dǎo)讀： 隨著人工智能和大數(shù)據(jù)的發(fā)展，企業(yè)數(shù)字化轉(zhuǎn)型加速，數(shù)據(jù)量劇增，推動(dòng)了存儲(chǔ)市場(chǎng)需求的逐年增長(zhǎng)，針對(duì)存儲(chǔ)測(cè)試設(shè)備的需求也越來(lái)越復(fù)雜和多樣化。研華SOM-C350高端COM-HPC解決方案，具備出色算力、高速數(shù)據(jù)傳輸、豐富I/O接口，且兼容PCIe Gen5，是存儲(chǔ)ATE測(cè)試設(shè)備的優(yōu)選方案。 市場(chǎng)背景 據(jù)IDC數(shù)據(jù)預(yù)測(cè)，到2025年，企業(yè)級(jí)SSD全球出貨量將增至約7436萬(wàn)塊。存儲(chǔ)產(chǎn)品需求爆炸性增
  • 利用電容測(cè)試方法開(kāi)創(chuàng)鍵合線檢測(cè)新天地
    利用電容測(cè)試方法開(kāi)創(chuàng)鍵合線檢測(cè)新天地
    鍵合線廣泛應(yīng)用于電子設(shè)備、半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)和微電子領(lǐng)域。它能夠?qū)⒓呻娐罚↖C）中的裸片與其他電子元器件（如晶體管和電阻器）進(jìn)行連接。鍵合線可在芯片的鍵合焊盤與封裝基板或另一塊芯片的相應(yīng)焊盤之間建立電氣連接。 半導(dǎo)體和電子設(shè)備制造市場(chǎng)正在持續(xù)擴(kuò)展其版圖。據(jù)《財(cái)富商業(yè)洞察》最近發(fā)布的一份報(bào)告中預(yù)測(cè)，到 2032 年，半導(dǎo)體市場(chǎng)預(yù)計(jì)將突破 20625.9 億美元大關(guān)。隨著市場(chǎng)需求的不斷攀升，鍵合線測(cè)試的重要
  • DFT和ATE哪個(gè)前景更好？怎么選？
    DFT和ATE哪個(gè)前景更好？怎么選？
    ATE測(cè)試和DFT可測(cè)性設(shè)計(jì)，二者對(duì)芯片測(cè)試都至關(guān)重要，且彼此之間也有千絲萬(wàn)縷的聯(lián)系。有好多ATE測(cè)試工程師來(lái)咨詢?nèi)绾无D(zhuǎn)崗到DFT。今天就來(lái)講講這兩個(gè)崗位。
  • 雖卷但有：說(shuō)說(shuō)我最熟悉的測(cè)試機(jī)行業(yè)吧
    雖卷但有：說(shuō)說(shuō)我最熟悉的測(cè)試機(jī)行業(yè)吧
    我雖然在行業(yè)研究方面涉足的領(lǐng)域非常多，但絕大多數(shù)我還只是有些基本常識(shí)，算不上專業(yè)。但是在測(cè)試機(jī)（ATE）領(lǐng)域，我還是有相當(dāng)專業(yè)背景的。畢竟，我在2003年從工藝制造轉(zhuǎn)行進(jìn)入ATE行業(yè)，在一線的測(cè)試應(yīng)用開(kāi)發(fā)技術(shù)崗位上干了十幾年...
  • ATE機(jī)臺(tái)哪家強(qiáng)？
    這是IC男奮斗史的
    5.8萬(wàn)
    1評(píng)論
    09/22 10:30
    ATE
  • 借助 1.5 GHz TAP1500L 探頭增強(qiáng)飛針測(cè)試儀
    借助 1.5 GHz TAP1500L 探頭增強(qiáng)飛針測(cè)試儀
    泰克公司將其標(biāo)準(zhǔn)電纜延長(zhǎng)到原來(lái)的5倍以上，解決了一個(gè)關(guān)鍵痛點(diǎn)。 在印刷電路板 (PCB) 驗(yàn)證和制造工作流程中，對(duì)降低成本、有效檢測(cè)缺陷、提高可重復(fù)性和效率以及盡可能減少觸控時(shí)間的要求越來(lái)越高。泰克公司的許多客戶正在利用或計(jì)劃利用自動(dòng)化測(cè)試解決方案來(lái)滿足此類需求。 在最終組裝下游，發(fā)現(xiàn)缺陷和解決制造或設(shè)計(jì)差異的成本巨大。飛針自動(dòng)測(cè)試設(shè)備 (ATE) 技術(shù)具備靈活、快速、準(zhǔn)確的優(yōu)勢(shì)和自動(dòng)化能力，已成
  • Pickering為現(xiàn)有產(chǎn)品增加了額定功率加倍的型號(hào)， 進(jìn)一步提升了常用舌簧繼電器的技術(shù)規(guī)格
    Pickering為現(xiàn)有產(chǎn)品增加了額定功率加倍的型號(hào)， 進(jìn)一步提升了常用舌簧繼電器的技術(shù)規(guī)格
    Pickering為最受歡迎的四個(gè)繼電器系列，即112、113、116和122系列，提升了50-100%的額定功率 高性能舌簧繼電器的領(lǐng)先者Pickering提高了最受歡迎的四個(gè)繼電器系列的額定功率，包括112,113和116系列，以及超高密度4mm2的122系列，以確保工程師在不占用寶貴的PCB空間的情況下，有更多的選擇來(lái)搭建更高規(guī)格的開(kāi)關(guān)系統(tǒng)。作為該公司持續(xù)創(chuàng)新和產(chǎn)品改進(jìn)承諾的一部分，更高的額
  • 血海飄香的ATE行業(yè)，92家供應(yīng)商匯總
    血海飄香的ATE行業(yè)，92家供應(yīng)商匯總
    去年我發(fā)布了一次全球ATE行業(yè)設(shè)備供應(yīng)商的名單，記得當(dāng)時(shí)就有90家，我已經(jīng)直呼行業(yè)競(jìng)爭(zhēng)激烈了。沒(méi)想到最近更新數(shù)據(jù)后又增加了2家。然而這還沒(méi)完！去年年底前，居然還有不止一個(gè)投資人拿著新的測(cè)試機(jī)項(xiàng)目向我打聽(tīng)有沒(méi)有機(jī)會(huì)。隔著手機(jī)，我真的不知道該說(shuō)什么了
  • 新型六位半數(shù)字電壓測(cè)量模塊助力突破工業(yè)精密測(cè)量邊界
    新型六位半數(shù)字電壓測(cè)量模塊助力突破工業(yè)精密測(cè)量邊界
    俗話說(shuō)“差之毫厘，謬以千里”，在當(dāng)下精密工業(yè)領(lǐng)域，儀表測(cè)量的精確性直接影響生產(chǎn)過(guò)程中的自動(dòng)化控制水平及設(shè)備工作的安全可靠性。電壓，作為電力系統(tǒng)中的基本參數(shù)之一，如何借助小尺寸且易于系統(tǒng)集成的高可靠性單元實(shí)現(xiàn)精確測(cè)量，成為眾多領(lǐng)域客戶提出的創(chuàng)新性需求。作為全球領(lǐng)先的半導(dǎo)體技術(shù)提供商，ADI開(kāi)創(chuàng)性推出了新型六位半數(shù)字電壓測(cè)量模塊，大大降低了實(shí)現(xiàn)精確電壓測(cè)量的門檻。 多種場(chǎng)景下的高精度電壓信號(hào)采集挑戰(zhàn)如
  • IC擇崗指南 | DFT和ATE怎么選？
    IC擇崗指南 | DFT和ATE怎么選？
    ATE測(cè)試和DFT可測(cè)性設(shè)計(jì)，雖然二者都對(duì)芯片測(cè)試至關(guān)重要，但是兩個(gè)崗位的區(qū)別還是很大的。兩個(gè)崗位應(yīng)該如何做選擇？??
    2717
    2023/10/13
  • 泰瑞達(dá)引入實(shí)時(shí)分析解決方案至測(cè)試流程
    全球先進(jìn)的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商泰瑞達(dá)（NASDAQ:TER）今日宣布，推出泰瑞達(dá)Archimedes解決方案---這一開(kāi)放式架構(gòu)將實(shí)時(shí)分析引入半導(dǎo)體測(cè)試。該解決方案可優(yōu)化測(cè)試流程、提升良率并降低成本，同時(shí)減少當(dāng)前云端方案存在的安全隱患。
  • 區(qū)區(qū)50多億美金的ATE市場(chǎng)，擠了90家廠商
    區(qū)區(qū)50多億美金的ATE市場(chǎng)，擠了90家廠商
    年復(fù)合增長(zhǎng)率（CAGR）為5.33%。按照這個(gè)發(fā)展趨勢(shì)，2022年的市場(chǎng)規(guī)模也就50多億美金而已
  • 面向未來(lái)，深化校企聯(lián)動(dòng)，泰瑞達(dá)助力中國(guó)集成電路測(cè)試人才的培養(yǎng)
    面向未來(lái)，深化校企聯(lián)動(dòng)，泰瑞達(dá)助力中國(guó)集成電路測(cè)試人才的培養(yǎng)
    全球先進(jìn)的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商泰瑞達(dá)（NASDAQ:TER）宣布，日前高校訪問(wèn)泰瑞達(dá)合肥分公司活動(dòng)圓滿結(jié)束。中國(guó)研究生創(chuàng)“芯”大賽秘書(shū)處涂叢慧秘書(shū)長(zhǎng)、安徽大學(xué)集成電路學(xué)院吳秀龍?jiān)洪L(zhǎng)、合肥工業(yè)大學(xué)儀器科學(xué)與光電工程學(xué)院夏豪杰院長(zhǎng)、微電子學(xué)院黃正峰副院長(zhǎng)一行人對(duì)泰瑞達(dá)合肥分公司進(jìn)行了參觀訪問(wèn)，泰瑞達(dá)中國(guó)工程開(kāi)發(fā)總監(jiān)侯毅先生和中國(guó)市場(chǎng)溝通經(jīng)理劉怡穎小姐熱情接待了各位來(lái)賓，并圍繞著“校企合作、人才培養(yǎng)”等話
  • 如何為ATE應(yīng)用創(chuàng)建具有拉電流和灌電流功能的雙輸出電壓軌
    摘要 本文詳細(xì)介紹一種創(chuàng)建雙輸出電壓軌的方法，該方法能為設(shè)備電源(DPS)提供正負(fù)電壓軌，并且只需要一個(gè)雙向電源。傳統(tǒng)的設(shè)備電源供電方法使用兩個(gè)雙向（拉電流和灌電流能力）電源，一個(gè)為正電壓軌供電，一個(gè)為負(fù)電壓軌供電。這種配置不但笨重，且成本高昂。 簡(jiǎn)介 DPS一般與自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)和其他測(cè)量設(shè)備搭配使用。ATE是一種電腦控制機(jī)械設(shè)備，自動(dòng)驅(qū)動(dòng)傳統(tǒng)的手動(dòng)電子測(cè)試設(shè)備來(lái)評(píng)估功能、質(zhì)量、性能和應(yīng)力
  • 別再只盯著光刻機(jī)了！自動(dòng)化測(cè)試對(duì)于芯片制造同樣重要
    行業(yè)調(diào)研數(shù)據(jù)顯示，芯片行業(yè)的產(chǎn)值和營(yíng)收一直在不斷提高，同時(shí)其地位受到大眾的關(guān)注。光刻機(jī)在芯片領(lǐng)域當(dāng)然獨(dú)占鰲頭，但一顆芯片的成功不只取決于光刻部分，測(cè)試對(duì)芯片的質(zhì)量更有不容忽視的意義。 不論是更小尺寸的芯片，還是時(shí)下火熱的chiplet方式的芯片，都對(duì)于芯片測(cè)試環(huán)節(jié)提出了更高的挑戰(zhàn)，對(duì)于測(cè)量和測(cè)試復(fù)雜度都有了更高的要求。 自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備（ATE） ATE（Automatic Test Equipme
  • ATE引腳電子器件的電平設(shè)置DAC校準(zhǔn)
    摘要 本文提供一種校準(zhǔn)數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)的方法，專用于引腳電子器件驅(qū)動(dòng)器、比較器、負(fù)載、PMU和DPS。DAC具有差分非線性(DNL)和積分非線性(INL)等非線性特性，我們可以通過(guò)增益和偏置調(diào)整來(lái)盡可能降低這些特性。本文描述如何執(zhí)行這些校準(zhǔn)，以改善電平設(shè)置性能。 簡(jiǎn)介 自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備(ATE)描述用于一次對(duì)單個(gè)或多個(gè)器件執(zhí)行單次或一系列測(cè)試的測(cè)試儀器。不同類型的ATE測(cè)試電子器件、硬件和半導(dǎo)體
  • 基于新型MEMS開(kāi)關(guān)提高SoC測(cè)試能力及系統(tǒng)產(chǎn)出
    先進(jìn)的數(shù)字處理器IC要求通過(guò)單獨(dú)的DC參數(shù)和高速數(shù)字自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)測(cè)試，以達(dá)到質(zhì)保要求。這帶來(lái)了很大的成本和組織管理挑戰(zhàn)。本文將介紹ADGM1001 SPDT MEMS開(kāi)關(guān)如何助力一次性通過(guò)單插入測(cè)試，以幫助進(jìn)行DC參數(shù)測(cè)試和高速數(shù)字測(cè)試，從而降低測(cè)試成本，簡(jiǎn)化數(shù)字/RF片上系統(tǒng)(SoC)的測(cè)試流程。 圖1.操作員將負(fù)載板安裝到測(cè)試儀上，以測(cè)試數(shù)字SoC ATE挑戰(zhàn) 半導(dǎo)體市場(chǎng)在不斷發(fā)展，
  • 泰瑞達(dá)攜精彩演講亮相SEMICON China，解讀系統(tǒng)級(jí)測(cè)試在電子行業(yè)的重要性
    泰瑞達(dá)宣布受邀出席SEMICON China 2022于11月2日舉辦的半導(dǎo)體制造與先進(jìn)封裝論壇活動(dòng)，在向與會(huì)嘉賓解讀了系統(tǒng)級(jí)測(cè)試在電子行業(yè)創(chuàng)新中的卓越表現(xiàn)的同時(shí)，還分享了泰瑞達(dá)在推進(jìn)系統(tǒng)級(jí)測(cè)試采用方面所扮演的重要角色。
  • 長(zhǎng)電科技：芯片成品制造的“四個(gè)協(xié)同”
    集成電路產(chǎn)業(yè)沿著摩爾定律走到今天,持續(xù)推進(jìn)的硅工藝節(jié)點(diǎn)難以為繼,伴隨著5G通信、汽車電子,人工智能、高性能計(jì)算等新興領(lǐng)域?qū)呻娐樊a(chǎn)品與技術(shù)需求的增長(zhǎng),集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展面臨諸多挑戰(zhàn),例如如何實(shí)現(xiàn)更低的集成復(fù)雜度和更低的成本。

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