詳解USB接口驗證的那些坑，帶著你的問題來現(xiàn)場Debug

作為這個星球上被制造和被使用最多的數(shù)字接口，USB自有其工程上的過人之處，也有其簡潔優(yōu)雅之美。由于USB協(xié)會和芯片廠商的做出的大量努力，硬件系統(tǒng)設(shè)計者得以不必專職關(guān)注USB接口的設(shè)計測試和認證，所以遇到問題的時候往往會感覺其現(xiàn)象缺少相關(guān)性和充滿不確定性，失之于系統(tǒng)理解USB架構(gòu)的簡潔嚴謹，so，帶著你的問題來現(xiàn)場吧，一起debug！

時間：2016年12月10日 13:30——16:00（摩爾吧同步直播）

地點：蘇州市工業(yè)園區(qū)仁愛路99號D1座201室摩爾吧孵化器（點擊報名線下活動）

主講內(nèi)容：

1.USB2.0 compliance test introduction

2.USB2.0 Electrical test report解讀

3.USB-IF認證項目之外的USB2.0測試

4.USB3.0 compliance test introduction

5.USB3.0 Electrical test report解讀

6.USB2.0/3.0 interoperability test解讀

7.BUG分析1：USB2.0 eye fail

8.BUG分析2：USB2.0 enumeration random fail

9.TypeC 接口介紹

10.現(xiàn)場提問及討論環(huán)節(jié)

主講嘉賓：

劉沖

東南大學(xué)碩士，曾在某科研機構(gòu)從事系統(tǒng)工程師工作，后進入瑞晟微電子（蘇州）有限公司，任高級硬件工程師，主要從事USB相關(guān)IC產(chǎn)品的開發(fā)，曾撰寫申請了USB方面的三個專利。負責過USB芯片產(chǎn)品開發(fā)相關(guān)的平臺設(shè)計、相關(guān)IC驗證方案設(shè)計及實操、USB-IF認證、USB相容性測試、相關(guān)IC穩(wěn)定性/一致性自動化測試設(shè)計、相關(guān)IC量產(chǎn)測試設(shè)計、相關(guān)IC封裝設(shè)計。撰寫了相關(guān)IC的Datasheet，user manual，test report文檔。

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