加入星計(jì)劃,您可以享受以下權(quán)益:

  • 創(chuàng)作內(nèi)容快速變現(xiàn)
  • 行業(yè)影響力擴(kuò)散
  • 作品版權(quán)保護(hù)
  • 300W+ 專業(yè)用戶
  • 1.5W+ 優(yōu)質(zhì)創(chuàng)作者
  • 5000+ 長(zhǎng)期合作伙伴
立即加入
  • 正文
  • 相關(guān)推薦
  • 電子產(chǎn)業(yè)圖譜
申請(qǐng)入駐 產(chǎn)業(yè)圖譜

使用ENA-TDR進(jìn)行阻抗測(cè)試

2020/07/28
426
閱讀需 6 分鐘
加入交流群
掃碼加入
獲取工程師必備禮包
參與熱點(diǎn)資訊討論

在測(cè)量一條傳輸線上各處的阻抗值以及在時(shí)間域或距離域中對(duì)被測(cè)器件中所存在的問(wèn)題,例如器件特性的不連續(xù)性進(jìn)行檢查時(shí),矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的時(shí)域測(cè)試功能是非常有用的。

時(shí)域:指在時(shí)間范疇內(nèi)進(jìn)行的分析或時(shí)域測(cè)試結(jié)果的顯示,這種分析和測(cè)試結(jié)果顯示在二維圖形(X-Y 曲線)上,X 軸要么表示的是距離(電長(zhǎng)度)或要么表示的是時(shí)間,Y 軸表示的則是幅度信息(通常為阻抗或電壓)。

時(shí)域反射測(cè)量技術(shù)(TDR):指利用快速階躍信號(hào)發(fā)生器接收機(jī)來(lái)進(jìn)行傳輸或反射的測(cè)量方法。TDR 是對(duì)具有這種測(cè)試能力的示波器的統(tǒng)稱。?使用 ENA 用 TDR 方法測(cè)量(時(shí)域內(nèi)的測(cè)量)也可以得到 S 參數(shù)(頻域內(nèi)的參數(shù))。矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA):指用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)進(jìn)行比值測(cè)量的方法,這種方法是用一個(gè)反射信號(hào)接收機(jī)或傳輸信號(hào)接收機(jī)對(duì)掃頻連續(xù)波(CW)激勵(lì)源進(jìn)行跟蹤,測(cè)試結(jié)果通常顯示為 S 參數(shù)(反射信號(hào)或傳輸信號(hào)與激勵(lì)信號(hào)之比)。這份資料主要講述如何把用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)到的 S 參變換成時(shí)域測(cè)試結(jié)果。?

時(shí)域分析在觀察傳輸線上的失配響應(yīng)時(shí)非常有用。當(dāng)測(cè)量被測(cè)器件的反射系數(shù)ρ或 S11 時(shí),反射信號(hào)的大小是與被測(cè)器件的輸入阻抗成正比的。S11 是被測(cè)器件的阻抗與測(cè)試系統(tǒng)的特性阻抗 Z0 相差大小的量度。一旦頻域數(shù)據(jù)變換到時(shí)域數(shù)據(jù),便可看到被測(cè)器件對(duì)階躍或沖擊激勵(lì)的時(shí)域響應(yīng)。時(shí)域響應(yīng)可以給出各個(gè)電路元件的位置和每個(gè)部分的實(shí)際阻抗。所有這些信息都可以直接從分析儀的顯示屏幕上看到。

?

比如用這個(gè)探針為例進(jìn)行阻抗測(cè)量

?

打開(kāi) ENA 的 TDR 功能進(jìn)行校準(zhǔn)

?

由于是單端口器件,所以選擇【Single Ended 1-Port】

?

按系統(tǒng)提示進(jìn)行開(kāi)路校準(zhǔn)

?

然后接上夾具板或是探針,終端不接任何東西進(jìn)行開(kāi)路校準(zhǔn)

將系統(tǒng)狀態(tài)設(shè)置成【Time Doman】,格式為【Impedance】且激勵(lì)狀態(tài)為【Lowpass Step】,也就是低通時(shí)域模式。

VNA 的低通時(shí)域模式是對(duì)傳統(tǒng) TDR 測(cè)量方式的模擬,并提供階躍信號(hào)和沖擊信號(hào)兩種激勵(lì)方式。

?

在這種測(cè)量模式下對(duì)測(cè)量的頻率范圍有一些特殊限制。它要求測(cè)試所得到的正數(shù)據(jù)點(diǎn)要均勻地隔開(kāi),這樣這些數(shù)據(jù)點(diǎn)就可以從直流到測(cè)試的終止頻率都是諧波相關(guān)的。在設(shè)置測(cè)量頻率時(shí)必須要使測(cè)試的終止頻率等于起始測(cè)試頻率與測(cè)試點(diǎn)數(shù)之積。(下圖安立 VNA 測(cè)試畫(huà)面所示)。

低通測(cè)試模式所包含的信息在確定不連續(xù)性處的阻抗類型(電阻型、 電容型或電感型)時(shí)是非常有用的。

?

如上圖所示在階躍向應(yīng)下開(kāi)路及短路狀態(tài)的波形如下

由于我在端口處連接了測(cè)試電纜故下圖中左邊紅圈處為儀表 N 頭的位置,而右邊紅圈處才是電纜終端開(kāi)路的位置。

通過(guò)座標(biāo)軸可以調(diào)整實(shí)際顯示的刻度。下圖是調(diào)整好刻度且接上探針的阻抗顯示。

兩個(gè) Mark 點(diǎn)處中間一段就是探針的阻抗及電長(zhǎng)度。Mark 點(diǎn)使用以下方式可以開(kāi)啟。

通過(guò)這種方式也可以去測(cè)量比如 N 轉(zhuǎn) SMA 之類的轉(zhuǎn)接頭的阻抗特性,下圖是一個(gè)品質(zhì)較好的 N 轉(zhuǎn) SMA 接頭。

及一個(gè)相對(duì)便宜的接頭測(cè)試結(jié)果顯示。

這也告訴我們,通常在使用儀表選擇連接器的時(shí)候盡量不要圖便宜,還是要選性價(jià)比較好的產(chǎn)品,通過(guò)實(shí)物一測(cè)即可發(fā)現(xiàn),廉價(jià)的接頭在阻抗匹配上做的是相對(duì)較差的,進(jìn)而直接影響到系統(tǒng)的校準(zhǔn)結(jié)果。

矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀時(shí)域低通測(cè)量模式功能真正強(qiáng)大的地方在于它在其階躍和沖擊激勵(lì)響應(yīng)的結(jié)果中既描述了阻抗不連續(xù)性所在的位置,又能告訴你在這些阻抗不連續(xù)性的地方阻抗發(fā)生了哪種類型的變化。低通測(cè)量模式結(jié)果顯示中的橫軸是沖擊的雙向行進(jìn)時(shí)間。矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀屏幕上的游標(biāo)功能可以顯示出到某個(gè)不連續(xù)點(diǎn)的時(shí)間和距離,并在計(jì)算游標(biāo)所顯示的距離讀數(shù)時(shí)自動(dòng)對(duì)雙向響應(yīng)作出解釋。所顯示的距離是基于假設(shè)信號(hào)是以光速(2.997925×108 m/s)傳播的。實(shí)際上,在大多數(shù)介質(zhì),如同軸電纜中,信號(hào)的傳播速度要比光速慢。

Gating 功能可以將不需要顯示的部分去除。

相關(guān)推薦

電子產(chǎn)業(yè)圖譜

射頻行業(yè)從業(yè)者,專注儀器儀表測(cè)試十年有余,業(yè)余時(shí)間分享有關(guān)儀表操作及測(cè)試方案的實(shí)操內(nèi)容。