ADC

• 如何監(jiān)測自動(dòng)化測試儀和編碼器
  

  在設(shè)計(jì)用于準(zhǔn)確監(jiān)測和控制重要電氣參數(shù)（包括電流、電壓和功率）的系統(tǒng)中，模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC) 使用同步采樣來監(jiān)測和控制電壓和電流。速度和精度是其中一些重要的參數(shù)，它們有助于更大限度提升信號鏈的性能。此外，通道密度更高的 ADC 有助于縮小電路板尺寸，并增加通過給定電路板傳輸?shù)臄?shù)據(jù)量。這篇技術(shù)文章將介紹精度更高且速度更快的 ADC 如何在自動(dòng)化半導(dǎo)體測試儀、數(shù)據(jù)采集設(shè)備和高端線性編碼器等站點(diǎn)數(shù)量較多

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  427

  12/16 08:27

  半導(dǎo)體 ADC
• 在校準(zhǔn)中使用埋入式齊納技術(shù)帶來極高精度優(yōu)勢
  

  精密測試設(shè)備依靠精確的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器，確保所有測量結(jié)果都能準(zhǔn)確地反映受測器件的狀態(tài)。在測試和測量中，任何偏移誤差、增益誤差或有效位數(shù)減少都將對測量結(jié)果產(chǎn)生負(fù)面影響。然而，遺憾的是，在高精度系統(tǒng)中，所有這些誤差都無法完全避免。溫度漂移或長期漂移等問題最終會(huì)以增益誤差或偏移誤差的形式表現(xiàn)出來。因此必須進(jìn)行校準(zhǔn)，確保所有測量結(jié)果都是準(zhǔn)確的。 要實(shí)現(xiàn)有效的校準(zhǔn)，必須提供穩(wěn)定不變的電壓電平。通俗地講，可以稱之為

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  543

  12/04 08:12

  ADC dac
• 多電源IC的上電時(shí)序控制你搞明白了么？
  

  人們常常想當(dāng)然地為PCB的電路上電，殊不知這可能造成破壞以及有損或無損閂鎖狀況。這些問題可能并不突出，直到量產(chǎn)開始，器件和設(shè)計(jì)的容差接受檢驗(yàn)時(shí)才被發(fā)現(xiàn)，但為時(shí)已晚，項(xiàng)目和產(chǎn)品的時(shí)間及交貨將會(huì)受到極大影響，成本大幅攀升。為了解決這一階段中發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤，將需要進(jìn)行大量修改，包括PCB布局變更、設(shè)計(jì)更改和額外的異?，F(xiàn)象等。

  亞德諾半導(dǎo)體

  1048

  12/04 10:40

  ADC 電源IC
• ADC是如何影響EVM指標(biāo)的
  

  EVM是量化系統(tǒng)中所有信號綜合損害的簡單指標(biāo)。采用數(shù)字調(diào)制的器件經(jīng)常定義這個(gè)指標(biāo)，可通過同相(I)和正交(Q)矢量圖（也稱為星座圖）來表示。

  射頻通信鏈

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  11/27 08:45

  ADC EVM
• STM32G474 ADC無法正常啟動(dòng)轉(zhuǎn)換怎么辦
  提問 void MX_ADC3_Init(void) { ADC_MultiModeTypeDef multimode = {0}; ADC_ChannelConfTypeDef sConfig = {0}; hadc3.Instance = ADC3; hadc3.Init.ClockPrescaler = ADC_CLOCK_SYNC_PCLK_DIV4; hadc3.Init.Resolut

  eefocus_3901714

  95

  12/17 13:40

  stm32 ADC

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