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編輯器(editor)是2012年公布的地理信息系統(tǒng)名詞。

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    在現(xiàn)代ULSI電路中溝道熱載流子(CHC)誘導(dǎo)的退化是一個重要的與可靠性相關(guān)的問題。載流子在通過MOSFET通道的大電場加速時獲得動能。當(dāng)大多數(shù)載流子到達(dá)漏極時,熱載流子(動能非常高的載流子)由于原子能級碰撞的沖擊電離,可以在漏極附近產(chǎn)生電子—空穴對。其他的可以注入柵極通道界面,打破Si-H鍵,增加界面態(tài)密度。CHC的影響是器件參數(shù)的時間相關(guān)的退化,如VT、IDLIN和IDSAT。這種通道熱載流子
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