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歡迎光臨與非網(wǎng)-吉時(shí)利資源中心,該中心整合了包括微弱信號(hào)測(cè)試與源測(cè)量技術(shù)、半導(dǎo)體參數(shù)分析與測(cè)試、以及數(shù)字多用表典型應(yīng)用等海量的官方測(cè)試技術(shù)指南與測(cè)試應(yīng)用方案,技術(shù)文章、白皮書(shū)、培訓(xùn)教程一應(yīng)俱全,旨在幫助工程師一站式完成測(cè)試技術(shù)的學(xué)習(xí)與測(cè)試方案的搭建,進(jìn)而顯著縮短項(xiàng)目開(kāi)發(fā)時(shí)間。
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程控開(kāi)關(guān)與控制
4200脈沖IV測(cè)量CMOS晶體管
資源大?。?78.84KB
[摘要]
脈沖IV為用戶(hù)提供了使用脈沖而非直流信號(hào)在設(shè)備上運(yùn)行參數(shù)曲線掃描的能力。帶相應(yīng)的脈沖測(cè)量的脈沖源的使用通常有兩種方法。
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吉時(shí)利新的數(shù)字萬(wàn)用表指南:了解如何找到精度和價(jià)值的最佳組合
資源大?。?.25MB
[摘要]
您將不僅獲得有用的選型指南和產(chǎn)品信息,還能訪問(wèn)關(guān)于下列重要主題的八篇應(yīng)用筆記: ?確定電阻率和導(dǎo)電類(lèi)型 ?連接器的生產(chǎn)測(cè)試方案 ?峰值檢測(cè) ?熱敏電阻器的生產(chǎn)測(cè)試 ?優(yōu)化開(kāi)關(guān)/讀速率 ?高亮度LED的高速測(cè)試 ?LLCR引腳
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利用2510-AT型自動(dòng)調(diào)諧溫度控制源表自動(dòng)優(yōu)化熱電制冷器PID系數(shù)
資源大?。?37.11KB
[摘要]
許多熱電制冷器(TEC)控制器采用PI或PID環(huán)路實(shí)現(xiàn)溫度控制。雖然這些環(huán)路可以提供精密的溫度控制,但卻要求適當(dāng)?shù)腜、I、D值。在很多情況下,這些P、I、D值是通過(guò)試驗(yàn)和誤差來(lái)確定的,不僅耗時(shí)、有難度,而且所需時(shí)間可能比溫度設(shè)置時(shí)間還要長(zhǎng)。
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通過(guò)TSP利用3700系列系統(tǒng)開(kāi)關(guān)/萬(wàn)用表和2600系列源表優(yōu)化交換式測(cè)量
資源大小:341.51KB
[摘要]
TSP是一個(gè)非常靈活的硬件/軟件架構(gòu),允許許多不同的執(zhí)行選擇。最重要的權(quán)衡是編程復(fù)雜度與吞吐量。相對(duì)簡(jiǎn)單的編程技術(shù)獲得顯著的吞吐量提升。稍微復(fù)雜一些的編程可以產(chǎn)生明顯的更高的吞吐量增益。本文中將展示多種編程/吞吐量方案,以使用戶(hù)依據(jù)他們的應(yīng)
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用Picoammeter測(cè)量能有多快?
資源大?。?27.52KB
[摘要]
許多敏感的儀表產(chǎn)品,例如皮安表或靜電計(jì),都提供了能夠用數(shù)據(jù)采集板卡或數(shù)字化范圍來(lái)監(jiān)控的模擬輸出,以最大化測(cè)量速度。這些來(lái)自?xún)x表的模擬輸出信號(hào)的上升時(shí)間的規(guī)格表明,比起儀表前面板或IEEE-488、RS- 232總線,這些模擬輸出信號(hào)能夠?qū)?/span>
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理解開(kāi)關(guān)技術(shù)基于信號(hào)類(lèi)型的使用
資源大?。?.67MB
[摘要]
根據(jù)涉及的測(cè)試信號(hào)類(lèi)型,必須采用特定的開(kāi)關(guān)技術(shù)保持整個(gè)開(kāi)關(guān)系統(tǒng)的信號(hào)完整性。此電子手冊(cè)介紹了各種測(cè)試信號(hào)的開(kāi)關(guān)技術(shù)。 這本32頁(yè)的電子手冊(cè)涵蓋了以下信號(hào)類(lèi)型的開(kāi)關(guān)技術(shù): ?電壓開(kāi)關(guān) ?電流開(kāi)關(guān) ?電阻開(kāi)關(guān) ?無(wú)功負(fù)載有關(guān)的信號(hào)
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吉時(shí)利內(nèi)容豐富的全新CD《掌握當(dāng)今半導(dǎo)體器件的測(cè)量方法》,該CD含有關(guān)于半導(dǎo)體器件測(cè)試和測(cè)量方法的十幾期在線研討會(huì)。
下載資源,填寫(xiě)完整信息,并注冊(cè)成為與非網(wǎng)會(huì)員,還有機(jī)會(huì)獲得
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