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[摘要] 對更小尺寸、更低功耗電子器件的需求推動了納米技術(shù)的發(fā)展。研究人員努力理解量子能級結(jié)構(gòu)和納米級器件的行為以及這些如何影響電氣特性。這使觀察或預(yù)測何時發(fā)生隧道效應(yīng)，計算器件的能態(tài)密度，理解低溫環(huán)境下的導(dǎo)電現(xiàn)象以及產(chǎn)生人造原子（其中能量量化可以基

2600A 系列數(shù)字源表

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[摘要] 2600A系列數(shù)字源表是吉時利最新的I-V源測量儀器，可用作臺式I-V特征分析工具或者構(gòu)成多通道I-V測試系統(tǒng)的組成模塊。作為臺式儀器使用時，2600A系列儀器提供了一個嵌入式TSP Express軟件工具，使用戶無需編程或者安裝軟件即可快

測試系統(tǒng)是開啟納米技術(shù)實際應(yīng)用之門的鑰匙

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[摘要] 為確保高可靠性，Nanomix公司對基于碳納米管技術(shù)的FET進行了晶圓級測試，在模擬使用條件下對封裝的納米管傳感器進行了測試。

面向BTI特征分析的在運行中閾值電壓測量

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[摘要] 傳統(tǒng)CMOS工藝縮放技術(shù)的發(fā)展正逐漸逼近極限，迫切需要采用新材料和新器件設(shè)計。隨著這些新材料和新設(shè)計的出現(xiàn)，人們非常關(guān)注潛在失效機理，并需要進行更多的可靠性測試。諸如偏溫不穩(wěn)定性（N-BTI和P-BTI）等失效機理需要高速信號源和測量功能才

利用正向壓降測量半導(dǎo)體結(jié)溫

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[摘要] 從集成電路中數(shù)以百萬計晶體管到制造高亮度LED的大面積復(fù)合結(jié)，半導(dǎo)體結(jié)可能由于不斷產(chǎn)生的熱量而在早期發(fā)生故障。當(dāng)特征尺寸縮小并且當(dāng)所需電流增大的情況下，這會成為非常嚴重的問題，甚至正常操作也可能聚積熱量，使結(jié)溫升高。溫度上升會導(dǎo)致半導(dǎo)體結(jié)內(nèi)

2400系列數(shù)字源表系列

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[摘要] 吉時利數(shù)字源表系列專用于要求緊密結(jié)合源和測量的測試應(yīng)用。全部數(shù)字源表型號都提供精密電壓源和電流源以及測量功能。每款數(shù)字源表既是高度穩(wěn)定的直流電源也是真儀器級的5位半萬用表。此電源的特性包括低噪聲、精密和回讀。此萬用表的功能包括可重復(fù)性高和低

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