關于磨損失效機制的應用說明

2023/11/01

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一般情況下，功率半導體器件的整體可靠性用圖1所示的“浴盆”曲線表示。設備的磨損階段與應用中運行負載條件下物理損傷的一般積累有關。設備性能的主要變化與機械磨損有關，這是由于外殼中組件的熱膨脹系數(shù)的差異造成的。由于零件的膨脹和收縮，模具表面可以顯示出明顯的“擦洗”。如圖2-4所示，擦洗可能導致在這些組分界面處形成金屬間化合物。然后，積聚會導致導通狀態(tài)、VT或正向電壓、VF特性的變化，以及長時間內結漏電流的變化。

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