74系列數(shù)字集成芯片測(cè)試儀（程序、參考電路等）

一、任務(wù)

設(shè)計(jì)制作一個(gè)集成電路芯片測(cè)試儀，能對(duì)常用的74系列邏輯芯片進(jìn)行邏輯功能測(cè)試，以確定芯片的好壞和型號(hào)。

二、要求

1.基本要求

（1）通過(guò)鍵盤輸入型號(hào)，可以對(duì)74系列的00/02/04/08/10/11/20/21/27/30十種組合邏輯芯片進(jìn)行邏輯功能測(cè)試，確定其功能正確性；

（2）通過(guò)鍵盤輸入管腿特性，可以確定上述74系列的組合邏輯芯片的型號(hào)；

（3）顯示上述芯片的邏輯符號(hào)和邏輯表達(dá)式。

2.發(fā)揮部分

將上述三項(xiàng)基本要求擴(kuò)展到74系列時(shí)序電路：74/109/160/245等。

（1）通過(guò)鍵盤輸入型號(hào)，可以對(duì)74系列的74/109/160/245等芯片進(jìn)行邏輯功能測(cè)試，確定其功能正確性；

（2）通過(guò)鍵盤輸入管腿特性，可以確定上述74系列時(shí)序邏輯芯片的型號(hào)；

（3）顯示上述芯片的邏輯符號(hào)和狀態(tài)轉(zhuǎn)換圖；

（4）其它特色與創(chuàng)新。

74系列的數(shù)字集成芯片測(cè)試儀程序源碼截圖：

代碼說(shuō)明：可以測(cè)試大多數(shù)74系列芯片，12864顯示，可以測(cè)試芯片通道好壞情況，在自己的開(kāi)發(fā)板上調(diào)試通過(guò)，有注釋