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    先進(jìn)的數(shù)字處理器IC要求通過單獨的DC參數(shù)和高速數(shù)字自動測試設(shè)備(ATE)測試，以達(dá)到質(zhì)保要求。這帶來了很大的成本和組織管理挑戰(zhàn)。本文將介紹ADGM1001 SPDT MEMS開關(guān)如何助力一次性通過單插入測試，以幫助進(jìn)行DC參數(shù)測試和高速數(shù)字測試，從而降低測試成本，簡化數(shù)字/RF片上系統(tǒng)(SoC)的測試流程。 圖1.操作員將負(fù)載板安裝到測試儀上，以測試數(shù)字SoC ATE挑戰(zhàn) 半導(dǎo)體市場在不斷發(fā)展，
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