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熱像儀應(yīng)用-微米級電子器件檢測
[摘要]

微米級小目標(biāo)通常是溫度檢測的難點，接觸式溫度計由于其傳感器尺寸限制 ，對于1mm以下的目標(biāo)是無法檢測的，高端紅外熱像儀配套專用的微距鏡頭， 可對最小32微米的目標(biāo)進(jìn)行有效檢測，本文檔以案例敘述使用大師之選系列熱像儀對微米級芯片進(jìn)行溫度檢測的過程和系統(tǒng)解決方案。
資源類型：pdf
資源大?。?/span>250.98KB
所屬分類：應(yīng)用案例
Fluke公司簡介

福祿克公司成立于1948年，是緊湊型專業(yè)電子測試工具的全球領(lǐng)導(dǎo)者。福祿克致力于為工業(yè)及電子電氣領(lǐng)域的技術(shù)專家、工程師、電氣及計量工作者提供從安裝到維護(hù)管理的測試及校準(zhǔn)設(shè)備。福祿克?自1978年進(jìn)入中國市場，2004年成立中國研發(fā)中心，2013年擴(kuò)大產(chǎn)能，世福工廠在安徽蕪湖落成投產(chǎn)，現(xiàn)在中國已成為集研發(fā)、工程、制造、供應(yīng)鏈和銷售為一體的企業(yè)，為中國客戶提供更好的服務(wù)和更快的反饋。