同步檢波器助力精密低電平測量
[摘要]

同步檢波器可提取淹沒在噪底內(nèi)的小信號,用于進(jìn)行各種物理量測量,例如極小的電阻、明亮背景下的光吸收或反射量,或者存在于高噪聲電平下的應(yīng)變。

在很多系統(tǒng)中,隨著頻率趨近于零,噪聲會不斷增加。例如,運(yùn)算放大器具有1/f 噪聲,而光學(xué)測量易受因環(huán)境光條件變化而產(chǎn)生的噪聲影響。在遠(yuǎn)離低頻噪聲處進(jìn)行的測量可提高信噪比,從而可檢測到較弱信號。例如,將光源調(diào)制到幾千赫茲有助于測量原本會淹沒在噪底內(nèi)的反射光。圖1 顯示了調(diào)制技術(shù)如何恢復(fù)原本低于噪底的信號。

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