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AN1640降低加速度計(jì)對BCI的敏感性

2023/04/25
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汽車制造商要求所有系統(tǒng)電子設(shè)備都能通過嚴(yán)格的電磁兼容性(EMC)測試。安全氣囊系統(tǒng)是必須在EMC測試中正常運(yùn)行的系統(tǒng)之一。EMC測試有不同類型,其中之一是測試系統(tǒng)對高頻傳導(dǎo)發(fā)射的耐受性。對于EMC評估而言,最嚴(yán)格的方法之一是批量電流注入(BCI)測試。整個(gè)安全氣囊系統(tǒng)必須在BCI測試期間保持正常工作。本應(yīng)用筆記將討論如何降低Freescale加速度計(jì)對BCI的敏感性,但這里提供的信息也可應(yīng)用于系統(tǒng)中的其他電子組件。

BCI測試設(shè)置

BCI測試程序遵循一個(gè)公開發(fā)表的SAE工程標(biāo)準(zhǔn),“抗輻射電場~批量電流注入(BCI)”,或者稱為SAE J 1113/401。對于安全氣囊模塊,這涉及通過控制注入探針中的電流向線束注入所需的電流。測試頻率可以從1 MHz到數(shù)百M(fèi)Hz不等。測試需要每個(gè)八度至少20個(gè)頻率步驟,但也可以使用多達(dá)50個(gè)步驟。注入探針放置在距離安全氣囊模塊連接器的線束上的三個(gè)距離之一:120、450和750毫米。存在一個(gè)監(jiān)測探針來測量所注入的電流量。它放置在距離安全氣囊模塊50毫米的位置。這會(huì)反饋到系統(tǒng),以確保所需的測試電流被注入到線束上。圖1顯示了BCI測試的設(shè)置。(更多細(xì)節(jié)請參見SAE J 1113/401測試程序)。

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CRCW04020000Z0EDC 1 Vishay Intertechnologies Fixed Resistor, Metal Glaze/thick Film, 0.063W, 0ohm, Surface Mount, 0402, CHIP

ECAD模型

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31818 1 TE Connectivity 1.65mm2, COPPER ALLOY, TIN FINISH, WIRE TERMINAL
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SMMBT2222ALT1G 1 onsemi NPN Bipolar Transistor, SOT-23 (TO-236) 3 LEAD, 3000-REEL

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恩智浦

恩智浦

恩智浦半導(dǎo)體創(chuàng)立于2006年,其前身為荷蘭飛利浦公司于1953年成立的半導(dǎo)體事業(yè)部,總部位于荷蘭埃因霍溫。恩智浦2010年在美國納斯達(dá)克上市。恩智浦2010年在美國納斯達(dá)克上市。恩智浦半導(dǎo)體致力于打造全球化解決方案,實(shí)現(xiàn)智慧生活,安全連結(jié)。

恩智浦半導(dǎo)體創(chuàng)立于2006年,其前身為荷蘭飛利浦公司于1953年成立的半導(dǎo)體事業(yè)部,總部位于荷蘭埃因霍溫。恩智浦2010年在美國納斯達(dá)克上市。恩智浦2010年在美國納斯達(dá)克上市。恩智浦半導(dǎo)體致力于打造全球化解決方案,實(shí)現(xiàn)智慧生活,安全連結(jié)。收起

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