加入星計(jì)劃,您可以享受以下權(quán)益:

  • 創(chuàng)作內(nèi)容快速變現(xiàn)
  • 行業(yè)影響力擴(kuò)散
  • 作品版權(quán)保護(hù)
  • 300W+ 專(zhuān)業(yè)用戶(hù)
  • 1.5W+ 優(yōu)質(zhì)創(chuàng)作者
  • 5000+ 長(zhǎng)期合作伙伴
立即加入
  • 正文
  • 相關(guān)推薦
  • 電子產(chǎn)業(yè)圖譜
申請(qǐng)入駐 產(chǎn)業(yè)圖譜

泰瑞達(dá)攜精彩演講亮相SEMICON China,解讀系統(tǒng)級(jí)測(cè)試在電子行業(yè)的重要性

2022/11/02
549
閱讀需 5 分鐘
加入交流群
掃碼加入
獲取工程師必備禮包
參與熱點(diǎn)資訊討論

全球先進(jìn)的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商泰瑞達(dá)(NASDAQ:TER)宣布,受邀出席SEMICON China 2022于11月2日舉辦的半導(dǎo)體制造先進(jìn)封裝論壇活動(dòng),在向與會(huì)嘉賓解讀了系統(tǒng)級(jí)測(cè)試(簡(jiǎn)稱(chēng)SLT)在電子行業(yè)創(chuàng)新中的卓越表現(xiàn)的同時(shí),還分享了泰瑞達(dá)在推進(jìn)系統(tǒng)級(jí)測(cè)試采用方面所扮演的重要角色。

本屆半導(dǎo)體制造與先進(jìn)封裝論壇邀請(qǐng)到了全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈的代表領(lǐng)袖和專(zhuān)家,旨在從關(guān)鍵工藝、設(shè)備材料、封裝測(cè)試等多角度探討半導(dǎo)體制造與先進(jìn)封裝的整體系統(tǒng)解決方案。作為先進(jìn)的全自動(dòng)測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商,泰瑞達(dá)全球副總裁徐建仁先生、中國(guó)區(qū)現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用技術(shù)支持經(jīng)理?xiàng)钛┓寂抗餐瑓⑴c了本次論壇。論壇中徐建仁先生以視頻的方式發(fā)表了題為《推動(dòng)系統(tǒng)級(jí)測(cè)試采用率不斷提高》的演講,楊雪芳女士出席現(xiàn)場(chǎng)為大家作演講補(bǔ)充發(fā)言。徐建仁先生指出采用SLT策略能夠大幅提升芯片系統(tǒng)質(zhì)量水平,同時(shí)縮短芯片制造周期,是當(dāng)前芯片供應(yīng)商快速實(shí)現(xiàn)高良品率的理想選擇。

強(qiáng)勁的半導(dǎo)體需求之下,需要SLT策略擊破芯片多邊形挑戰(zhàn)

在半導(dǎo)體晶體管尺寸不斷縮小、芯片功能日益復(fù)雜的趨勢(shì)下,測(cè)試已成為產(chǎn)品落地生產(chǎn)前的關(guān)鍵一環(huán)。同時(shí),隨著人們對(duì)電子設(shè)備極致的智能化需求,芯片供應(yīng)商正在將更多功能壓縮到給定芯片中,這使工藝技術(shù)已經(jīng)無(wú)限接近極限。盡管如此,芯片廠(chǎng)商仍然需要盡早交付新工藝產(chǎn)品,并在保障良品率的同時(shí)采用更前沿的封裝技術(shù)來(lái)提高晶體管密度和性能,滿(mǎn)足應(yīng)用創(chuàng)新需求。

在這種情勢(shì)下,使用SLT策略能夠以低成本策略幫助芯片廠(chǎng)商應(yīng)對(duì)挑戰(zhàn)。SLT是以與最終用途緊密匹配的方式對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行的功能測(cè)試,其“系統(tǒng)”部分在定制的系統(tǒng)級(jí)測(cè)試板上實(shí)現(xiàn)。因此,這種策略有助于防止故障漏檢,確保芯片達(dá)到所需的高質(zhì)量水平。此外,SLT是在盡可能靠近終端應(yīng)用的場(chǎng)景運(yùn)行設(shè)備,所以也有助于縮短產(chǎn)品的上市時(shí)間。

徐建仁先生講到,SLT之所以是一個(gè)出色的解決方案,歸根結(jié)底在于成本。對(duì)于高常規(guī)質(zhì)量級(jí)別要求,SLT策略的經(jīng)濟(jì)效益在于發(fā)現(xiàn)合理百分比的故障,而非ATE系統(tǒng)擅長(zhǎng)的捕捉晶體管級(jí)設(shè)計(jì)參數(shù)故障。它能夠查找ATE無(wú)法測(cè)試的區(qū)域或同時(shí)刺激芯片及其外圍的多個(gè)IP模塊造成的缺陷。相對(duì)于ATE系統(tǒng),單個(gè)SLT系統(tǒng)的成本可能并不具備優(yōu)勢(shì),但其勝在并測(cè)性能高,因此提升并行測(cè)試效率是保持SLT低成本的關(guān)鍵。

對(duì)于晶圓測(cè)試早期和封裝過(guò)程的故障捕捉,ATE系統(tǒng)表現(xiàn)更佳,但這并不是一種經(jīng)濟(jì)的解決辦法。通過(guò)把SLT與ATE相結(jié)合,將SLT添加到現(xiàn)有ATE測(cè)試流程后,能夠有效提高缺陷檢測(cè)覆蓋率,捕捉最后0.00xx%的故障,實(shí)現(xiàn)最低可能的逃錯(cuò)率。

發(fā)揮領(lǐng)導(dǎo)者優(yōu)勢(shì),持續(xù)推進(jìn)SLT策略應(yīng)用

在復(fù)雜度繼續(xù)呈指數(shù)增長(zhǎng)且任務(wù)關(guān)鍵型應(yīng)用數(shù)量不斷增長(zhǎng)的情況下,合理部署SLT對(duì)于保證芯片的質(zhì)量和控制成本是十分有必要的。泰瑞達(dá)作為半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域的頭部企業(yè),致力于將存儲(chǔ)自動(dòng)化架構(gòu)和專(zhuān)業(yè)知識(shí)與半導(dǎo)體測(cè)試知識(shí)相結(jié)合,并借助旗下Titan平臺(tái)可將差異化的SLT自動(dòng)化和測(cè)試解決方案呈現(xiàn)在用戶(hù)面前,幫助用戶(hù)解決測(cè)試方面的難題。

徐建仁先生在演講的最后表示,SLT是ATE測(cè)試設(shè)備觸達(dá)市場(chǎng)的補(bǔ)充測(cè)試步驟和擴(kuò)展,它的增長(zhǎng)源于人們對(duì)芯片質(zhì)量需求的持續(xù)增加,以及關(guān)鍵任務(wù)電子應(yīng)用場(chǎng)景的提升和上市時(shí)間窗口的不斷縮小。泰瑞達(dá)在SLT領(lǐng)域擁有廣泛而專(zhuān)業(yè)的技術(shù)和適用的工具,可以為客戶(hù)提供支持整個(gè)測(cè)試生命周期的解決方案,這有助于其在最優(yōu)的時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)高產(chǎn)量規(guī)模,從而在快速變換的市場(chǎng)中保持領(lǐng)先優(yōu)勢(shì)。

泰瑞達(dá)

泰瑞達(dá)

泰瑞達(dá)解決方案覆蓋整個(gè)開(kāi)發(fā)過(guò)程,包括從產(chǎn)品概念到產(chǎn)品運(yùn)輸?shù)母鱾€(gè)環(huán)節(jié)。 無(wú)論您是要測(cè)試最新技術(shù)、降低成本、縮短上市時(shí)間,抑或是需要涵蓋以上所有需求,我們的自動(dòng)化解決方案都不失為您的理想之選。

泰瑞達(dá)解決方案覆蓋整個(gè)開(kāi)發(fā)過(guò)程,包括從產(chǎn)品概念到產(chǎn)品運(yùn)輸?shù)母鱾€(gè)環(huán)節(jié)。 無(wú)論您是要測(cè)試最新技術(shù)、降低成本、縮短上市時(shí)間,抑或是需要涵蓋以上所有需求,我們的自動(dòng)化解決方案都不失為您的理想之選。收起

查看更多

相關(guān)推薦

電子產(chǎn)業(yè)圖譜