晶振輸出頻率偏差的影響及測(cè)試分析

晶體振蕩器（晶振）在通信系統(tǒng)中扮演著至關(guān)重要的角色，它們能夠產(chǎn)生高純度、無諧波失真的正弦波，作為載波信號(hào)。晶振的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性直接影響到通信系統(tǒng)的性能。如果晶振的輸出頻率偏差過大，可能會(huì)導(dǎo)致一系列問題。

晶振輸出頻率偏差過大的影響

1. 通信異常：晶振頻偏超差會(huì)導(dǎo)致鎖相環(huán)（PLL）鎖偏，進(jìn)而導(dǎo)致頻率出錯(cuò)，通信系統(tǒng)出現(xiàn)異常。

2. 通信中斷：如果晶振失效，通信系統(tǒng)可能會(huì)完全中斷。

晶振失效的原因分析

除了頻率誤差的因素外，晶振失效還可能由以下原因引起：

1. 負(fù)載電容：負(fù)載電容的變化會(huì)影響晶振的諧振頻率。

2. 負(fù)性阻抗：晶振的負(fù)性阻抗特性在特定條件下可能導(dǎo)致振蕩不穩(wěn)定。

3. 激勵(lì)電平：激勵(lì)電平過高或過低都可能影響晶振的性能。

4. 噪聲：晶振內(nèi)部的噪聲可能會(huì)影響其輸出信號(hào)的純度。

5. 焊接：焊接不良可能導(dǎo)致晶振與電路的連接不穩(wěn)定，影響其性能。

晶振測(cè)試報(bào)告中的頻率偏差

晶振的各項(xiàng)參數(shù)需要使用專業(yè)的晶振測(cè)試儀器進(jìn)行分析。S&A250B網(wǎng)絡(luò)分析儀可以測(cè)量各尺寸直插及貼片石英晶體諧振器，提供精確且重復(fù)性好的晶體測(cè)量方式，測(cè)量超過40種不同的參數(shù)。S&A280B則用于測(cè)量石英晶體振蕩器，分析輸出波形及各類電性能參數(shù)。

在測(cè)試報(bào)告中，F(xiàn)L（Load?Frequency/Modulation?Frequency?Difference）表示負(fù)載頻率/調(diào)制頻差，指在常溫25℃和標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載電容條件下的振蕩頻率。晶發(fā)電子配備了S&A280B/S&A250B測(cè)試儀器，能夠檢測(cè)在溫度、負(fù)載和功率電壓變化條件下的頻率穩(wěn)定性。

晶振的總頻差

頻率穩(wěn)定性表示晶振的輸出頻率因溫度變化、頻率老化、電壓變化、輸出負(fù)載變化等外部條件而發(fā)生的變化。我們常說的總頻差就是這些工作和非工作參數(shù)全部結(jié)合起來而引起晶振頻率和給定標(biāo)稱頻率的最大偏差。