開關(guān)電源是當(dāng)前電子信息飛速發(fā)展不可或缺的電源方式之一。開關(guān)電源以其功耗小、效率高、節(jié)能效果顯著的優(yōu)勢,廣泛應(yīng)用于各種消費類電子以及各類供電系統(tǒng)當(dāng)中,成為一種主流的電源產(chǎn)品。
測試需求
開關(guān)電源集成化是電源未來發(fā)展的主要趨勢,這也就意味著功率密度將會越來越大,對工藝要求也會越來越高,在半導(dǎo)體器件和磁性材料沒有新的突破之前,技術(shù)創(chuàng)新的重點將集中在如何提高開關(guān)電源的效率和減小重量上。
典型開關(guān)式電源的效率可能約為87%,也就是會有13%的輸入功率在電源內(nèi)部耗散,主要表現(xiàn)以廢熱的形式。在這些損耗中,很大一部分耗散在開關(guān)器件,通常是MOSFETs或IGBTs,而開關(guān)器件最主要損耗便是:開通損耗和關(guān)斷損耗。
測試原理及方法
在理想情況下,開關(guān)器件像照明開關(guān)一樣要么“開”、要么“關(guān)”,并在這兩種狀態(tài)之間瞬時切換。在“開”的狀態(tài)下,開關(guān)的阻抗是零,開關(guān)中沒有功率耗散,而不管有多少電流流經(jīng)開關(guān)。在“關(guān)”的狀態(tài)下,開關(guān)的阻抗是無窮大,流經(jīng)的電流是零,因此也沒有功率耗散。
在實際中,某些功率是在“常開”(傳導(dǎo))的狀態(tài)過程中耗散的;還有一些功率損耗,是在“開”和“關(guān)”(關(guān)閉)轉(zhuǎn)換、在“關(guān)”和“開”(打開)轉(zhuǎn)換期間耗散的,通常后者比前者明顯要高得多。
圖1
之所以出現(xiàn)這些不理想的情況,是因為電路中存在著寄生參數(shù)。如圖1所示,柵極上的寄生電容會降慢器件的開關(guān)速度,延長打開時間和關(guān)閉時間。在漏極電流流動時,MOSFET漏極和源極之間的寄生電阻都會耗散功率。
示波器測試開關(guān)損耗的原始辦法:需要工程師手動設(shè)置選通,并添加 數(shù)學(xué)公式,這樣便會導(dǎo)致不同工程師略微不同的設(shè)置方法引起不同的 測試結(jié)果。為了避免人工誤差,現(xiàn)流行使用軟件進行自動測量。
示波器測試開關(guān)損耗的新方案:泰克的POWER高級功率測量和 分析軟件為開關(guān)損耗測量提供了定制化自動設(shè)置功能,并且符合 IEC60747-8 和 IEC60747-9 的測試方法,告別復(fù)雜設(shè)置,現(xiàn)在只需按 一個按鈕,就可以執(zhí)行全套開關(guān)損耗功率和能量測量。
軟件中可以選擇算法模型,支持MOSFET和BJT/IGBT算法;電源類型支持SMPS、PFC和Flyback;可以使用自動幅度和上升時間測量, 確定信號的幅度,設(shè)置10% 和90% 幅度時的測量門限值,然后測量信號的上升時間。此外,在復(fù)雜的信號中,可以使用光標選通功能,把測量重點放在波形的特定部分。然后把幅度乘以80%,除以上升時間指標,計算得出轉(zhuǎn)換速率。還支持繪制出軌跡圖,方便設(shè)計工程師對其進行分析優(yōu)化。這一款軟件可以極大提高工作效率,縮短項目工期,并減少人為誤差,是當(dāng)前很多開關(guān)電源設(shè)計工程師的新寵。
POWER高級功率測量和分析軟件能夠覆蓋電源設(shè)計全流程測試,從電源的輸入到輸出,再到功率級和環(huán)路分析,都可以在一臺示波器上實現(xiàn)半自動化測試,具體POWER內(nèi)容可查看《使用5-PWR應(yīng)用軟件進行電源測量和分析》應(yīng)用指南。
測試方案
- 示波器:泰克MSO4/5/6系示波器
- 軟件:Power高級功率測量和分析軟件
軟件界面
高帶寬差分探頭
高壓差分探頭
交直流電流探頭