英飛凌新推出的IGBT7單管系列市場(chǎng)熱度不減,本文為大家整理針對(duì)該產(chǎn)品系列的常見問(wèn)題,一看就懂,牢牢碼住!
IGBT7都通過(guò)了哪些可靠性測(cè)試?
答:IGBT不論單管和模塊都需要通過(guò)多項(xiàng)可靠性測(cè)試以保證其長(zhǎng)期使用穩(wěn)定性,與電性能相關(guān)的主要有HTGS,HTRB,H3TRB,HV-H3TRB等。高溫高濕測(cè)試H3TRB的測(cè)試條件是溫度Ta=85℃,濕度RH=85%,VCE=80V,而HV-H3TRB在保持溫度和濕度雙85的條件下,將CE之間偏置電壓從80V提高到了80%的額定電壓,比如1200V的器件,測(cè)試HV-H3TRB時(shí)CE之間施加電壓Vstress 960V。測(cè)試電壓的大幅提升對(duì)于IGBT無(wú)疑是更嚴(yán)峻的考驗(yàn),而IGBT7通過(guò)優(yōu)化設(shè)計(jì),通過(guò)了1000小時(shí)的HV-H3TRB測(cè)試,顯示出對(duì)高壓及潮濕環(huán)境的卓越適應(yīng)能力。IGBT7單管產(chǎn)品的電性能可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)如下表所示。
IGBT7單管系列目前有哪些規(guī)格已經(jīng)量產(chǎn)?
答:目前IGBT7 T7/S7/H7單管已量產(chǎn)的產(chǎn)品請(qǐng)參考下方表格,可以看到,650V最大電流可達(dá)150A,1200V最大電流可達(dá)140A,可有效減少并聯(lián)數(shù)量,提升系統(tǒng)功率密度。
所有IGBT7的二極管能力都是全范圍的嗎?
答:是的,目前1200V和650V的IGBT7單管的反并聯(lián)二極管,都是和IGBT芯片電流等級(jí)相同的。這個(gè)從IGBT單管的命名規(guī)則上就可以看出來(lái),像CH7 CS7 EH7 ET7這些命名里的E和C,都是代表全電流二極管。具體可以參考《英飛凌IGBT單管命名規(guī)則》。
目前已量產(chǎn)的IGBT7單管系列,有短路和沒(méi)有短路能力的分別適用于哪些應(yīng)用領(lǐng)域?
答:具有短路能力的IGBT7有650V T7, 1200V S7,適用于開關(guān)頻率要求不太高,但可能有短路工況的應(yīng)用,比如電機(jī)驅(qū)動(dòng)。沒(méi)有短路能力的IGBT7有650V H7和1200V H7,進(jìn)一步降低了飽和壓降和開關(guān)損耗,適用于光伏,ESS,EVC等對(duì)開關(guān)頻率和效率要求比較高的場(chǎng)合。總結(jié)如下:
3pin和4pin的封裝對(duì)損耗有什么區(qū)別?
答:TO247-4pin封裝具有開爾文發(fā)射極,它將功率回路與驅(qū)動(dòng)回路解耦,減小了驅(qū)動(dòng)回路的雜感電感,對(duì)于損耗的影響推薦閱讀這篇文章《用數(shù)據(jù)看TO-247封裝單管開爾文管腳的重要性》。
H7與H5相比較,芯片面積是否變小了?
答:是的,功率半導(dǎo)體技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)是高功率密度,高功率密度的基礎(chǔ)是低損耗和器件的關(guān)斷電流的能力,參考文章《IGBT的電流是如何定義的》,H7的芯片飽和壓降比H5大幅降低,所以H7芯片的功率密度更高,相同電流的芯片尺寸更小,相同封裝可以放更大電流規(guī)格的芯片,具體可參見下一個(gè)問(wèn)題。
H7和H5的開關(guān)損耗相比怎么樣?
答:從下圖的折中曲線我們可以看到,H7的飽和導(dǎo)通電壓Vcesat最低,比S5降低了3%,比H5降低達(dá)25%。開關(guān)損耗方面,H7的Eon相對(duì)于S5降低了54%,相對(duì)于H5降低了77%;而H7的Eoff相對(duì)于S5降低了27%,相對(duì)于H5降低了20%,所以總體來(lái)說(shuō),H7整體的開關(guān)損耗(Eon+Eoff),還是要比S5和H5更低。
更多關(guān)于IGBT7相關(guān)信息,請(qǐng)閱讀原文查看。
參考閱讀
《用數(shù)據(jù)看TO-247封裝單管開爾文管腳的重要性》
《英飛凌IGBT單管命名規(guī)則》