話硅光02篇：光功率計

作者：葉政鵬，郭琳

光功率是光學(xué)研究中的重要參數(shù)，光功率可以用于判斷光源強度，光學(xué)元件的透射性能，光束的聚焦效果，也可以通過光功率的變化來評估光學(xué)系統(tǒng)的性能。發(fā)射機發(fā)出光功率，接收機接收光功率。光纖衰耗，接頭衰耗測試，實際上也是測試光纖兩端的光功率。光通信中的光功率一般較弱，范圍從nW級到mW級。這就對測試儀表——光功率計提出了較大的挑戰(zhàn)。

是德科技 N77-C系列光功率計，根據(jù)不同的應(yīng)用場景，提供了多種不同類型的光功率計產(chǎn)品，包括多端口光功率計、高功率光功率計、高靈敏度光功率計和光探頭主機以及光探頭。接下來就跟隨小編的步伐來一起了解一下是德科技光功率計系列儀表。

01、高功率光功率計

N7742C和N7743C是一款緊湊型、帶模擬反饋輸出的高速光功率計，具有測量輸入光信號光功率的能力。波長范圍可擴展至800nm，涵蓋850nm、970nm波段，支持多模和車載光纖通信等特殊波長；N7743C輸入功率最大值提升至+20dBm，可以測量更高輸入光功率的待測件；

N7742C和N7743C主要用于：

? 通用光功率測量；

? 多模光信號光功率測量；

? 光纖車載以太網(wǎng)；

? 光纖對準(zhǔn)；

02、多端口光功率計

N7744C和N7745C是一款緊湊型、高密度、高速多端口光功率計，支持高達(dá)8個端口，在多端口波長掃描測試中，配合高速、高精度的TSL可調(diào)諧激光器，可以實現(xiàn)雙向200nm/s高速掃描下，提供低至0.1pm測試分辨率。獨特設(shè)計的4合1磁吸式連接器，每1個連接器上包含4個相同類型的端口，支持FC、LC、裸纖等不同類型的光纖連接。多端口測試切換待測光路時，可提前將待測光路與磁吸連接器相連，切換時更加方便易用。

N7744C和N7745C主要用于：

? 通用光功率測量；

? 多端口、高密度場景下的光功率測量；

? 配合TSL可調(diào)諧激光器等儀表，實現(xiàn)IL/PDL掃描測試；

03、高靈敏度光功率計

N7747C和N7748C是一款緊湊型、帶模擬反饋輸出的高靈敏度光功率計，具有極低的噪聲和漂移。每個端口均支持模擬輸出，根據(jù)光功率測量結(jié)果提供線性或?qū)?shù)輸出反饋?？商鎿Q的端口連接器，支持FC、SC、LC、MU等更多類型；可以實現(xiàn)對-110dBm輸入光信號的光功率測試，在800-1700nm的寬帶范圍內(nèi)，擁有極高的測試靈敏度；

該設(shè)備主要用于：

? 通用光功率測量(支持SM和MM)；

? 計量場景下高精度、高靈敏度光功率測量；

04、光探頭主機&光探頭

是德科技N7749C和8162XC系列光探頭接口和光探頭，根據(jù)傳感器材料不同，可以覆蓋不同波長范圍及輸入光功率的光信號測試。光探頭的形態(tài)，允許探測器擺放的位置、使用的場景更加靈活多變。當(dāng)面對更高光功率的測試時，可以選擇積分球?qū)崿F(xiàn)最高+40dBm的光功率檢測。

N7749C和8162XC系列主要用于：

? 通用光功率測量；

? 使用積分球進(jìn)行高功率測量；

? 使用光探頭進(jìn)行空間光束功率測量；

是德科技光功率計相關(guān)解決方案

01、波長掃描光無源測試系統(tǒng)

伴隨數(shù)據(jù)中心及光通信的迅猛發(fā)展，光無源器件的發(fā)展已經(jīng)相對完備，大量無源光器件，如光分路器、光復(fù)用和解復(fù)用器、光濾波器等已經(jīng)被大量使用。針對技術(shù)相對成熟的無源光芯片測試，主要測試需求以插入損耗IL/偏振相關(guān)損耗PDL和回波損耗RL測量為主。傳統(tǒng)的測試方法可以通過寬帶光源+光譜分析儀實現(xiàn)，但如果要達(dá)到更高的波長分辨率和測試動態(tài)范圍，采用高性能/快速可調(diào)光源+多通道功率計進(jìn)行掃描測試在絕大多數(shù)情況下，更為準(zhǔn)確。尤其是針對多通道器件（波分復(fù)用器件）以及需要測試偏振相關(guān)損耗的器件， 可調(diào)光源+偏振控制器+多通道光功率計可能是唯一可行的測試方案。

光無源器件測試平臺

02、混合光有源器件直流波長響應(yīng)測試方案

混合光電芯片/器件，是指將有源部分（如光電轉(zhuǎn)換器）和無源部分（如光解復(fù)用器）結(jié)合在一起的芯片或器件。關(guān)于混合光有源器件進(jìn)行直流的波長響應(yīng)的測試，基本上可以采取和光無源器件測試同樣的系統(tǒng)平臺，只不過唯一區(qū)別是，該類器件的輸出口是電口，因此需要使用精確的直流源表B2900系列。

ICR直流特性測試平臺

目前除光器件的測試外，針對光芯片的On wafer測試需求也越發(fā)受到研發(fā)及測試人員的關(guān)注。在光芯片測試過程中，如何將光芯片上的光信號通過光纖耦合到測試系統(tǒng)中，是測試的重要環(huán)節(jié)。是德科技 N77-C系列光功率計，能夠提供與光功率測量結(jié)果相關(guān)的模擬反饋輸出（支持線性和對數(shù)模式），通過觀察光功率的測量結(jié)果，對光纖耦合進(jìn)行反饋調(diào)整，對數(shù)模式在低光功率計下?lián)碛懈叩撵`敏度。

對于要求高精度、高靈敏度的計量場景下，要求光功率計提供更加精確的測量結(jié)果和更加穩(wěn)定的儀表性能，用于保證測量的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。Keysight N77-C系列光功率計中，N7747C和N7748C高性能光功率計，擁有-110dBm的靈敏度和極低的漂移和噪聲，提供優(yōu)異的光功率測試性能。

以上就是是德科技光功率計系列產(chǎn)品及其應(yīng)用介紹。需要特別指出：截至2023年12月，光功率計模塊（81630B/81634B/81635A/81636A）、獨立式光功率計（N7744A/N7745A/N7747A/N7748A）均已停產(chǎn)。將由新一代N7774-C系列光功率計更好的支持相關(guān)測試。點擊下方按鈕下載硅光器件測試方案，還有機會贏取精美小禮品哦！