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摘要

本文提供一種校準(zhǔn)數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)的方法，專用于引腳電子器件驅(qū)動器、比較器、負(fù)載、PMU和DPS。DAC具有差分非線性(DNL)和積分非線性(INL)等非線性特性，我們可以通過增益和偏置調(diào)整來盡可能降低這些特性。本文描述如何執(zhí)行這些校準(zhǔn)，以改善電平設(shè)置性能。

簡介

自動化測試設(shè)備(ATE)描述用于一次對單個或多個器件執(zhí)行單次或一系列測試的測試儀器。不同類型的ATE測試電子器件、硬件和半導(dǎo)體器件。定時器件、DAC、ADC、多路復(fù)用器、繼電器和開關(guān)都是測試儀或ATE系統(tǒng)中的支持模塊。這些引腳電子器件可以利用精確的電壓和電流提供信號和電源。這些精密信號通過電平設(shè)置DAC進(jìn)行配置。在ATE產(chǎn)品系列中，有些引腳電子器件包含校準(zhǔn)寄存器，有些校準(zhǔn)設(shè)置存儲在片外。本文介紹DAC的功能、誤差，以及如何通過增益和偏置調(diào)整進(jìn)行校準(zhǔn)。

數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)

DAC是一種數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器，用于將數(shù)字輸入轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的模擬輸出電平。一個N位DAC可以支持2N個輸出電平。位數(shù)越高，DAC輸出分辨率越高。

圖1.數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)框圖。

首先，N位數(shù)字輸入提供給DAC串行寄存器。電壓開關(guān)和電阻求和網(wǎng)絡(luò)將數(shù)字輸入轉(zhuǎn)換為模擬輸出電平。DAC圖的轉(zhuǎn)換特性如圖2所示。對于3位DAC，23個數(shù)字輸入生成8個模擬輸出電平。

圖2.3位DAC的理想轉(zhuǎn)換函數(shù)。

DAC誤差

在現(xiàn)實(shí)世界中，轉(zhuǎn)換器并不理想。由于電阻值、插值和采樣的誤差，DAC的轉(zhuǎn)換函數(shù)并不是一條直線，或是線性的。這些誤差被稱為差分非線性(DNL)和積分非線性(INL)。DNL是輸出電平與理想步長之間的最大偏差，它由兩個連續(xù)輸出電壓電平之間的差值得出。INL是輸入/輸出特性與理想轉(zhuǎn)換函數(shù)之間的最大偏差。通過增益和偏置校正，可以減小INL誤差。

圖3中的INL顯示了實(shí)際轉(zhuǎn)換函數(shù)與理想轉(zhuǎn)換函數(shù)之間的偏差。DAC的增益誤差表示實(shí)際轉(zhuǎn)換函數(shù)的線性近似斜率與理想轉(zhuǎn)換函數(shù)斜率的匹配程度。在繪圖時，調(diào)整增益會影響線性近似角度。偏置誤差是測量值與所選的零偏置點(diǎn)之間的差值。如果調(diào)整偏置量，整個線性近似曲線會相應(yīng)地向上或向下移動。單個代碼的INL是任意給定點(diǎn)上增益誤差和偏置誤差的和。校準(zhǔn)之后，一旦增益和偏置誤差降至最低，那么轉(zhuǎn)換函數(shù)會是兩個端點(diǎn)之間的一條線。

圖3.INL誤差轉(zhuǎn)換函數(shù)。

校準(zhǔn)程序

用戶可以建立校準(zhǔn)程序，利用增益和偏置校正來降低DAC的非線性。以下步驟詳細(xì)說明了示例校準(zhǔn)程序的每個步驟。

對于N位DAC：
最大代碼(MC) = (2N – 1)
電壓范圍(VRANGE)
= 最大DAC輸出電壓(VMAX)
– 最小DAC輸出電壓(VMIN) = 4 × VREF
DAC輸入代碼（未校準(zhǔn)）

增益校正(GC)：
在最低和最高二進(jìn)制值時，DAC的線性度會降低。因此，建議在外部二進(jìn)制值或EC表推薦的校準(zhǔn)點(diǎn)之間的5%至10%范圍內(nèi)選擇校準(zhǔn)點(diǎn)。進(jìn)行以下計(jì)算時，我們假設(shè)選擇5%的校準(zhǔn)點(diǎn)。
將DAC輸入設(shè)置為高于最低二進(jìn)制值5%。計(jì)算預(yù)期的電壓輸出并將其記錄為IDEAL1。測量輸出電壓，并將其記錄為MEAS1。
將DAC輸入設(shè)置為低于最高二進(jìn)制值5%。計(jì)算并記錄IDEAL2。測量輸出電壓，并將其記錄為MEAS2。
DAC輸入代碼（進(jìn)行增益校正）

偏置校正(OC)：
所需的零偏置點(diǎn)因應(yīng)用而異。用戶應(yīng)該根據(jù)自己的應(yīng)用定義最佳值。有些用戶可能喜歡使用0V來獲得準(zhǔn)確的接地參考點(diǎn)。有些用戶喜歡使用操作范圍的中間值來盡量減少總體INL誤差。
對電壓-代碼公式的斜率應(yīng)用DAC增益校正，以確立單位增益。
選擇所需的零偏置電壓點(diǎn)并將其記錄為IDEAL3。使用更新后的電壓-代碼公式計(jì)算代碼。編程設(shè)置計(jì)算得出的代碼，然后測量輸出電壓，并將其記錄為MEAS3。
OC = MEAS3 – IDEAL3
DAC輸入代碼（進(jìn)行增益和偏置校正）

示例1

以MAX32007為例，它是一個八通道DCL，集成了電平設(shè)置DAC和PMU開關(guān)。MAX32007具有內(nèi)部DAC，用于設(shè)置VDH、VDL、VDT/VCOM、VCH、VCL、VCPH和VCPL的電平。這些DAC沒有內(nèi)部校準(zhǔn)寄存器。校準(zhǔn)DAC時，請遵循以下步驟：

按照評估套件數(shù)據(jù)手冊中的說明，啟動MAX32007評估(EV)套件。
將SMB連接器DATA0A和NTRM0A連接至1.2 V。
通過50 Ω端接裝置，將SMB連接器NDATA0A和TRM0A接地。
使用USB電纜，將評估套件連接至Windows? 10 PC。打開MAX32007評估套件軟件(GUI)。
VDH DAC分辨率 = N = 14

最大代碼 = (MC) = 2N – 1 = 16383
電壓范圍(VRANGE)
= 最大DAC輸出電壓(VMAX)
– 最小DAC輸出電壓(VMIN) = 7.5 – (–2.5) = 10
VDH DAC輸入代碼（未校準(zhǔn)）

采用圖4所示的DAC電壓電平和驅(qū)動器設(shè)置。注意，最低VDH DAC工作電壓值為–1.5 V，最高工作電壓值為4.5 V；在本例中，零偏置點(diǎn)值為1.5 V。

圖4.使用評估板軟件設(shè)置MAX32007的DAC電平。

施加VDH = –1.5 V，然后測量輸出電壓值。
施加VDH = 4.5 V，然后測量輸出電壓值。
增益校正 = 測量輸出電壓值之間的差值/理想值之間的差值。例如，(4.501–(–1.497))/(4.5–(–1.5)) = 0.999667
進(jìn)行增益校正后，

VDH DAC輸入代碼（進(jìn)行增益校正）

要應(yīng)用增益校正，打開菜單 → 選項(xiàng) → 校準(zhǔn)，如圖5所示。

圖5.MAX32007 DAC的校準(zhǔn)菜單。

施加VDH = 1.5 V（包含增益校正代碼），然后測量輸出電壓值。
偏置校正 = 測量輸出值–理想值。例如，(1.502–1.5) = 0.002。
在執(zhí)行增益和偏置校正之后，

VDH DAC輸入代碼（進(jìn)行增益和偏置校正）

示例2

以MAX9979為例，它是一個八通道DCL，集成了電平設(shè)置DAC和PMU。MAX9979包含內(nèi)部DAC，用于設(shè)置VDH、VDL、VDT、VCH、VCL、VCPH、VCPL、VCOM、VLDH、VLDL、VIN、VIOS、CLAMPHI/VHH和CLAMPLO的電平。這些DAC具有內(nèi)部校準(zhǔn)寄存器。在示例1中，調(diào)節(jié)了DAC輸出代碼，以盡量減少INL誤差。在示例2中，DAC輸入代碼保持不變，校準(zhǔn)寄存器調(diào)整輸出級緩沖器以盡量減少INL誤差，如圖6所示。要校準(zhǔn)DAC，請遵循以下步驟：